【创新融合/测试新挑战】深度探寻绝缘缺陷,给质量保驾护航

来源:本站作者:csgxy 日期:2024-01-18 13:16:51 浏览:135


为什么要多维度探寻绝缘缺陷

        在绝缘材料、高压半导体器件、线缆、脉冲变压器、高频电机、高压电容器等元部件绝缘性能分析时,常常需要综合应用绝缘电阻(IR)测试、交/直流耐电压强度(ACW/DCW)测试和局部放电(PD)测试,以全面评判被测品的绝缘性能。其中,IR测试可粗略判断试品绝缘性能,ACW/DCW测试可判断试品是否短期内能承受住设定高电压,而PD测试可评估试品长时间承受设定高电压的能力。

绝缘缺陷,局部放电综合测试仪新融合了什么
      本仪器创新的融合了ACW、DCW、IR等安规测量技术与数字化局部放电(PD)测量技术,实现在0.1kV~10kV测试电压下,进行20mAac/10mAdc的交流/直流耐电压测试、1MΩ~100GΩ绝缘电阻测试、1pC~10000pC局部放电测试等多项功能,可满足高频变压器、线缆、绝缘膜、高压隔离集成电路(光耦、磁耦、隔离放大器、隔离式数字通信芯片等)、半导体高压开关(IGBT、MOSFET等),及高压绝缘组件(如隔离基板)、低容值高压电容器等多种器件的安规+局放综合测量需求,对发现隐藏在试品中的弱绝缘缺陷展现出卓越的性能。
微信图片_20240118132349.jpg

本仪器符合标准:

IEC60270-2015(GB/T 7354-2018)高电压试验技术 局部放电测量

同时也适用于特定器件的局放测量标准,如光隔离器安全标准(IEC60747-5-5)、数字隔离器安全标准(IEC60747-17)、低电压设备安全标准(IEC60664-1)、半导体开关组件标准(IEC 60747-15)等;


2.jpg
产品性能特点有哪些

(1)局部放电测试适用标准:GB/T 7345-2018(IEC 60270-2015)、IEC60747-5-5、UL1577、IEC60664-1、IEC 60747-15、IEC 60747-17等


               (2)为适应局放检测标准和研发的需求,分别设置各段的上升时长、保持(测试)时长、下降时长、预置电压、目标电压、下降电压等。
               (3)强大的局部放电辨识算法,具有单局放测量能力。
               (4)局部放电校准器采用Lora无线通信,由局部放电测试仪界面设置参数并启动校准,可配置脉宽、个数、周期、重复率等参数,校准启动后自动调节增益、不需人为干预,一键完成,操作简便。


产品选型系列有哪些
3.jpg